思达科技推出新款One-Touch存储器测试探针卡-新品速递-产品新闻-新闻-中自数字移动传媒

半导体测试探针卡领导供应商——思达科技，推出新款牡羊座One-Touch一触式存储器测试探针卡。此款探针卡是专为满足现今高速与高精度的测试要求而设计，适用在高度并行大型阵列Multi-DUT存储器件，以提高生产率和降低测试成本。Aries-Prima的极致应用，是One-touch存储器芯片测试，在测试整个300mm晶圆时，仅需一触式的点触。

受到人工智能（AI）、增强现实(AR)、虚拟现实(VR)和云服务市场上升趋势的推动，IT基础设施与电脑存储器和运算能量爆炸性增长。随着需求持续增加，作为最高的测试耗材支出之一，行业客户需要尽可能以最低成本的探针卡，提高晶圆级测试效率。为了满足这些需求，思达科技多年来不断研发，今年在测试市场推出高价值的MEMS探针卡。

牡羊座Aries-Prima系列MEMS探针卡，是专为接合动态随机存储器（DRAM）和闪存（Flash Memory）IC晶圆至自动测试设备（ATE），以进行大型阵列多被测器件（Multi-DUT）测试而设计。Aries-Prima支持宽温度范围从-40摄氏度至150摄氏度的晶圆级测试，可对300mm晶圆执行一触式测试。这是通过稳定的探针点触，从第一次点触到120um驱动加速，和等同硅晶圆的热膨胀系数（CTE）来实现的。

此外，思达科技增强了3D MEMS的物理特性，延长探针接触寿命。Aries-Prima系列探针数最高可达100,000个，最多并联1536个被测器件（DUT），最小间距低至50um，为行业领导型存储器芯片提供可靠的测试数据，测试速度最高达3.2Gbps。

思达科技执行长暨技术长刘俊良博士表示：

“

思达致力于MEMS探针技术的开发，期许能在现在和未来，为客户带来卓越的测试体验。Aries-Prima是另一项一触式存储器测试探针卡制造技术的成就。我们相信，它革命性的结构和探针特性，将大幅提高产能且更加减少测试成本。

”