加速寿命试验及其在电子产品上的应用 Accelerated Life Testing and Application in Electronic Products 中国电子产品可靠性与环境试验研究所  王升鸿 Wang Shenghong  丁成功 Ding Chenggong 摘 要：加速寿命试验是电子元器件可靠性试验中的一项重要的试验手段，采取加速寿命试验的主要目的是加快试验进度，为预测系统或设备的可靠度提供重要依据。本文简要介绍了三种加速寿命试验方案和加速寿命试验理论依据，详细介绍了温度和湿度应力条件下的加速寿命计算方法，为工程技术人员提供进行其它产品的加速寿命试验提[登陆后可查看全文]