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软特性650V IGBT:低电磁干扰和电压尖峰的优化器件

作 者:Wilhelm Rusche Andreas 单 位:英飞凌科技股份公司 阅读 35841
1 引言 该器件专门设计用于中高电流应用。相对于600v igbt3,全新芯片具备更出色的关断软度和更高的阻断电压功能。此外,该器件的短路能力大幅增强。而600v igbt3主要适用于低功率应用或杂散电感很低的高功率应用。 图1 全新650v igbt4的截面图 2 650v igbt4的设计与技术 全新的650v igbt4[1]采用沟槽mos-top-cell薄片技术和场终止概念,如图1所示。沟槽与场终止技术的结合,带来相对低的通态和关断损耗。相对于600v igbt3,该芯片的厚度增加约15%,mos沟道的宽度降低约20%。因此,关断软度得以改进,从而降低电磁干扰。当然,这[登陆后可查看全文]
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