NI参加2013年汽车测试及质量监控博览会
日期:2013-10-15 10:42

　　美国国家仪器公司（National Instruments, 简称 NI）于2013年9月10日至12日参加在上海光大会展中心举办的2013年汽车测试及质量监控博览会。在此次汽车测试与质量监控博览会上面，NI联合多家业内资深的合作伙伴集中展示了在汽车领域多项前端应用和解决方案。





　　NI公司的产品几乎被所有的汽车OEM与一级供应商所采用。因为具有领先的I/O、灵活的硬件、强大高效的LabVIEW平台，用户可以创建适合多种应用的解决方案。目前，NI的产品涉及了快速控制原型、汽车终端测试、TEST Cell的测量与控制、硬件在环、车载测试与记录等几

1/4 下一页 上一页 首页 尾页